5699 高性能金屬桿標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)
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溫金屬套管標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)
·范圍可達(dá)鋁點(diǎn) (660 °C)
·nconel?
及鉑外殼可防止污染
·漂移小于 8 mK/年
·包含基于固定點(diǎn)的眾多可選校準(zhǔn)
·具有屏蔽地線
由福祿克設(shè)計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)因其可靠性和長(zhǎng)期漂移而聞名。這類標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)
已經(jīng)過***（以及其他主要）實(shí)驗(yàn)室的校準(zhǔn)，并經(jīng)過反復(fù)證實(shí)，確認(rèn)為同類競(jìng)爭(zhēng)型號(hào)中性能好的一種。如今，Fluke Calibration 的 5699金屬套管標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)
結(jié)合了由福祿克設(shè)計(jì)的、采用了防護(hù)外殼材料的傳感器的所有優(yōu)點(diǎn)，使得您的標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)能夠用于溫度高達(dá) 670 °C 的任何校驗(yàn)爐或恒溫槽。
5699 內(nèi)的無應(yīng)力傳感元件由我們基標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量學(xué)家設(shè)計(jì)和制造，該元件符合針對(duì)標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)的所有 ITS-90 要求，而且能將長(zhǎng)期漂移降低。
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1 年的常規(guī)使用后，漂移小于 0.008 °C（典型情況下 <
0.003 °C）。根據(jù)設(shè)備的養(yǎng)護(hù)和處理情況，甚至可能得到更低的漂移率。在四線傳感器上加裝第五根接地線，減少了電噪聲，尤其是對(duì)交流測(cè)量而言。是理想的鎳鉻鐵合金外殼的標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)。
5699 配備直徑為 0.219 英寸的鎳鉻鐵合金外殼，可提供較高的耐用性和較短的響應(yīng)時(shí)間。在外殼內(nèi)，傳感元件受到薄層鉑套管的保護(hù)，鉑套管為傳感器屏蔽了來自高溫條件下金屬環(huán)境內(nèi)的游離浮動(dòng)金屬離子的污染。污染減少即意味著漂移率降低 - 即使是在高溫條件下的金屬塊校驗(yàn)爐中使用幾小時(shí)后也如此。
如果您不選擇自行校準(zhǔn) 5699，那么 Fluke Calibration 自己的基標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室可為您提供各種各樣的選項(xiàng)，包括介于
– 200 °C 到 661 °C 之間的任何溫度范圍的固定點(diǎn)校準(zhǔn)。
在 Fluke Calibration，我們每天都使用標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)。我們?cè)O(shè)計(jì)、制造和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)，并且還將其作為標(biāo)準(zhǔn)使用，而且我們深知如何才能制造出性能可靠的儀器。
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規(guī)格參數(shù)
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溫度量程
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-200℃ 到 670℃
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標(biāo)稱電阻 RTRW
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25.5 Ω
(± 0.5 Ω)
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電流
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1 mA
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電阻比
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W(302.9146
K) ≥ 1.11807
W(234.3156 K) ≤ 0.844235
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漂移率
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0.1 Ω/°C
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偏移率
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<
0.008 °C/年
（典型情況下 < 0.003 °C/年）
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重復(fù)性
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< 1
mK
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在 TPW 處自熱
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在 1
mA 的電流條件下 < 0.001 °C
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復(fù)現(xiàn)性
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±0.001
°C 或更佳
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熱循環(huán)后的 RTPW 漂移
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<
0.001 °C
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鉑絲直徑
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0.07 mm
(0.003 英寸)
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導(dǎo)線
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四根傳感器線加接地線
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套管類型
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鎳鉻鐵合金
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套管直徑
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5.56 mm
± 0.13 mm（0.219 英寸 ± 0.005 英寸）
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套管長(zhǎng)度
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482 mm（19 英寸）
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絕緣電阻
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在 661
°C 的條件下 > 100 MΩ
在 20 °C 的條件下 > 1000 MΩ
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